背景: #EDF0F5 #FAFBE6 #FFF2E2 #FDE6E0 #F3FFE1 #DAFAF3 #EAEAEF 默认  
阅读新闻

X射线衍射仪---D8 ADVANCE

[日期:2009-11-10] 来源:  作者: [字体: ]
preview

X射线衍射仪---D8 ADVANCE

X射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质结构表征,以性能为导向研制与开发新材料, 宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法通过对置于分光器(测角仪)中心的样品上照射X射线,X射线在样品上产生衍射,改变X射线对样品的入射角度和衍射角度的同时,检测并记录X射线的强度,可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系,可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进行定量分析。除此以外,通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析,还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。

1. 主要性能

D8X射线衍射仪系列是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统。它的设计精密、硬件、软件功能齐全,能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。仪器包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。

2. 技术指标

  最大输出功率:≥2.2 kW电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时;X射线防护:国际安全认证,射线剂量≤0.2μSv/h

光管类型:陶瓷X光管,Cu靶,其他靶材可选,更换无需校准;光管功率:2.2 kW长细焦斑:0.4×12mm最大管压:60kV;最大管流:80mA

测角仪:采用步进马达驱动和光学编码器技术,扫描方式θ/θθ/2θ测角仪;最小步进角度0.0001 o;角度重现性0.0001 o

扫描角度范围-110 o 168 o;最高定位速度 ≥1500o/min索拉(Soller)狭缝:0.02, 0.04, 0.08 rad

探测器:闪烁晶体计数器;动态范围≥2×106 cps;背底噪声< 0.5 cps。固体探测器:锂漂移硅能量色散型;测量范围2keV 30keV;能量分辨率: E 279 eV

系统软件:系统控制和数据采集软件;物相检索软件及数据库;粉末衍射全分析软件包(相分析软件、物相定量分析软件;精密测定晶胞参数;样品中无定型含量;微晶尺寸和(或)微观应力分析软件;结构精修和面间距与角度计算;模拟复杂混合相或单相的无标定量分析);残余应力分析软件;晶粒度分析软件。

3. 应用范围

D8 ADVANCEX射线衍射仪集成最先进的技术提供了完善的衍射解决方案,可进行如下工作,物相检索;物相定量分析;嵌镶尺寸(晶粒大小)及微观应力(晶格畸变)测定;线形分析:除函数拟合法外,含独家开发的基本参数法分析软件,用作物相分析、点阵参数测定等数据处理前进行线形优化处理;剥离、数据平滑、傅立叶变换、3维图形功能等。广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体,为科学研究提供准确可靠的数据。

4. 样品要求

    来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素;

    固体粉末:大于1g,建议事先处理300目左右。

 

阅读:
录入:lyw

推荐 】 【 打印
上一篇:微波消解仪--CEM-MARS
下一篇:DL-38卡氏微量水分测定仪
地址:吉林市承德街45# 邮编:132022
copyright©吉林化工学院凌之风工作室设计制作(2005-2008)